AEC-Q100案例之通用MCU偏压高加速应力试验HAST及无偏压高加速应力试验UHST
发布时间：2022-04-28 09:23:59
AEC-Q100案例之通用MCU偏压高加速应力试验HAST及无偏压高加速应力试验UHST
1.AEC-Q100 偏压高加速应力试验Biased HAST (HAST)
1.1 测试信息
样品数量:每批77颗，3批次；共231颗待测芯片(已经过预处理试验)
参考方法:JEDEC JESD22-A110
电源要求:设置电压偏置
测试温度:+130℃
测试湿度:85% RH
测试时间:96小时
测试确认:芯片功能/性能测试(试验前后在室温和高温下电测)
合格判据:所有待测物应通过芯片功能/性能测试
1.2 设备与仪器
HAST加速老化测试箱
2. AEC-Q100 无偏压高加速应力试验 Unbiased HAST(UHST)
2.1 测试信息
样品数量:每批77颗，3批次；共231颗待测芯片(已经过预处理试验)
参考方法:JEDEC JESD22-A110
电源要求:无偏置电压
测试温度:+130℃
测试湿度:85% RH
测试时间:96小时
测试确认:芯片功能/性能测试(试验前后在室温下电测)
合格判据:所有待测物应通过芯片功能/性能测试
2.2 设备与仪器
HAST加速老化测试箱