AEC-Q104认证概念
AEC-Q104 FAILURE MECHANISM BASED STRESS TEST QUALIFICATION FOR MULTICHIP MODULES (MCM) IN AUTOMOTIVE APPLICATIONS：多芯片组件（MCM）的基于失效机理的应力测试验证
A组：加速环境应力测试（6项）
B组：加速寿命模拟测试（3项）
C组：封装组装完整性测试（8项）
D组：晶圆制造可靠度测试（5项）
E组：电气特性确认测试（10项）
F组：瑕疵筛选监控测试（2项）
G组：空封器件完整性测试（8项）
H组：模块专项测试（7项）