分立器件及集成电路B级、S级 周期检验D组测试项目
发布时间：2021-11-01 06:05:52
周期检验是在规定的周期内，从逐批检验合格的某个批或若干批中抽取样本，并施加各种应力的各项试验，然后检测产品判定其是否符合规定要求的一种检验。标准中主要包括C组环境试验、D组耐久性寿命试验。
1、检验批的构成样品应根据产品标准中规定的抽样方案和检查水平及规定的样品数，从本周期内经逐批检验合格的一个批或几个批中随机抽取，加倍或二次试验的样品在抽样时一次取足。
2、检验方法主要包括：
（1）常温性能检查，试验前在正常工作的条件下，对被试样品进行定性和定量检查，判断产品质量是否全面符合产品技术标准和国家标准要求，或符合订货合同的规定。由于电子产品种类多、用途广，表征产品特性的技术参数很多，常温性能检测时，应严格按照技术标准规定进行全部指标或部分指标检测，检测合格的产品方可进行周期检验项目中的其他项目检验。
（2）环境试验：为了评价在规定周期生产批的产品的环境适应能力，将经过性能检测合格的产品，在人工模拟的环境条件下试验，以此评价产品在实际使用、运输、贮存环境条件下的性能是否满足产品定型鉴定检验时达到的环境适应能力。环境试验还包括高温负荷贮存试验、低温负荷贮存试验、高低温变化试验、交变湿热和恒定湿热试验、低气压试验、振动试验、冲击碰撞、跌落、加速度试验、盐雾试验等。由于电子产品使用环境不一样，在周期环境试验中，规定的环境试验项目可能是单项试验，也可能是组合或综合试验。
3、D组检验是一种破坏性试验，或者是一种要消耗全部或相当大一部分设计使用寿命的长时间试验，主要包括各种可靠性试验。D组检验只能在少数样品上进行，样品应从A组和B组检验合格批的样品中随机抽取，受试样品数量与生产量或生产周期有关，在产品规范中规定。经过D组检验的样品一般不准作为产品交付。
D组检验的适用范围包括：① 产品正式生产后，如设计、结构、工艺、材料和关键元器件有变更，影响产品质量时；② 合同或订单要求进行D组试验时。
（分立器件）D组测试项目介绍
项目 | 方法GJB128 | JY级抽样数 | JCT级抽样数 |
1 | 中子辐射 | 1017（MOS器件不做，电荷耦合/双极型元件是器件功能的一个集成部分，做此试验） | 11（0）按晶片批可以失效1个但需追加7个无失效 | 11（0）按检验器件批可以失效1个但需追加7个无失效 |
| 终点测试 |
2 | 稳态总剂量辐射 | 1019 | 4（0）半径为晶片半径2/3周围存在>4000只芯片 | 22（0）按检验器件批可以失效1个但需追加16个无失效 |
| 终点测试 | 2（0）半径为晶片半径2/3周围存在≤4000只芯片 |
3 | ‘γ总剂量 | 3478 | 11（0）按晶片批可以失效1个但需追加7个无失效 | 11（0）按检验器件批可以失效1个但需追加7个无失效 |
| 终点测试 |
| 备注：1、本组做完器件不能做其他组，但可以做更苛刻。2、不在规定时间内进行，总辐射量不可累加。3、鉴定未列，只列质量一致性要求 |
（集成电路，B、S级）D组测试项目介绍
项目 | 方法GJB548 | 抽样数 |
1 | 外形尺寸 | 2016 | 5（0）可用同批电参数不合格样品 |
2 | 引线牢固性 | 2004试验条件B2（引线疲劳），样品应先满足密封测试。引线片式载体条件B1，针栅阵列引线方法2028，无引线片式载体条件D | 45（0）可用同批电参数不合格样品，45应是引线数或引出端数，至少3器件，45不足则全测。 |
| 密封（细检漏） | 1014玻璃熔封引线的封装才做 |
| 密封（粗检漏） |
3 | 热冲击 | 1011至少试验条件B，至少循环15次 | 15（0） |
| 温度循环 | 1010试验条件C，至少100次循环 |
| 耐湿 | 1004或1010目检判据 | 15（0） |
| 目检 |
| 密封（细检漏） | 1014 试验前锈蚀物毛刷刷除 |
| 密封（粗检漏） |
| 终点电测 | 器件规范 |
4（可用3组器件） | 机械冲击 | 2002至少条件B | 15（0） |
| 扫频振动 | 2007至少条件A |
| 恒定加速度 | 2001条件E仅Y1方向 |
| 密封（细捡漏） | 1014 |
| 密封（粗捡漏） |
| 目检 | 1010或1011判据 |
| 终点电测 | 详规（测试节点自定，可在耐湿之后密封之前做） |
5（可用同一批中电参数不合格器件） | 盐雾 | 1009 至少条件A | 15（0）订货最多500个+订购计划最多2000个+12个月内最多提供2000个，可以用5（0） |
| 目检 | 1009 |
| 密封（细检漏） | 1014试验前锈蚀物毛刷刷除 |
| 密封（粗检漏） |
6 | 内部水汽含量 | 1018 | 3（0）或5（1）3个出现1失效加试2个应无失效（应做失效分析），还不合格应在鉴定机构认可的另一实验室试验且合格，则2批结果+再测5颗合格结果提交，验收 |
7 | 引线涂覆 | 2025不适用于无引线片式载体封装 | 15（0）为引线数 |
| 粘附强度 |
8 | 封盖扭矩（玻璃熔封） | 2024 | 5（0） |
| 备注：1、鉴定机构批准，在线监控数据可替代D1、D2、D6、D7、D8。2、每种封装的每种引线涂覆工艺均应D3、D5、D7（镀锡、镀金不做D7）。 |