项目 | 方法GJB128 | 抽样数（大批） | 抽样数（小批） |
1 | 可焊性 | 2026（抽样方案用于引线数，器件≥3只） | LTPD=15 | 4（0） |
| 耐溶剂性 | 1022 |
2 | 温度循环（空气，不包括轴向引线玻璃封装二极管） | 1051 25℃下不要求停顿试验条件C，但步骤3温度应为175℃25次循环，t≥10min | LTPD=10 | 6（0） |
| 热冲击（液体，轴向引线玻璃封装二极管） | 1056 10次循环条件A |
| 浪涌 | 4066（整流器正向，瞬变抑制器反向） |
| 密封（细检漏） | 1071 双插头二极管&超小器件不要求条件G或H，最大泄漏率5*10-3Pa.cm3/s，但内腔＞0.3cm3器件，最大最大泄漏率5*10-2Pa.cm3/s |
| 密封（粗检漏） |
| 终点测试 | 详规 |
3 （BC都做，C组样品可延用B组继续老炼，键合C组做） | 稳态工作寿命 | 1027 偏置条件按规定 | LTPD=5 | 12（0） |
| 间歇工作寿命 | 1037 条件D，2000次 |
| 终点测试 | 1042 详规 |
| 键合强度（引线或夹片键合器件） | 2037 至少3只器件，应包括每只器件的所有尺寸引线 | LTPD=10（1） | LTPD=10（1） |
| 稳态直流阻断寿命（整流器） | 1048 至少340h | LTPD=5 | 12（0） |
| 终点测试 | |
| 键合强度（引线或夹片键合器件） | 2037 至少3只器件，应包括每只器件的所有内引线 | LTPD=10（1） | LTPD=10（1） |
4 | 开帽内部目检（轴向引线二极管进行破坏性引线拉力） | 2075 | 1（0） | 1（0） |
| SEM | 2077 | 6（0） | 6（0） |
5 | 热阻（二极管、双极型晶体管、功率FET、闸流晶体管、IGBT、GaAsFET） | 100%做时在E组做，GB/T4023Ⅵ 2，GB/T4587Ⅳ113161,SJ/Z9014.3，3013，3014 | LTPD=15 | 6（0） |
6 | 高温寿命（不工作） | 1032 至少340h，Tstg（max）=Ta | LTPD=7 | 12（0） |
| 终点测试 |
7 | 恒定加速度 | 2006 X1Y1Z1每方向至少1min，加速度至少196000m/s2,25℃≥10W器件加速度至少98000，带内匹配的微波功率器件加速度至少9800 | LTPD=10 | 6（0） |
| PIND | 2052 条件A（4.3.4.2.1） |
| 终点测试 | |
| 备注：1、不要求最终电测的各组样品，可采用同一批中电参数和X射线（JY）、PIND、老练后电参数不合格样品。2、7组只适用JT+JCT，内部及外部挤压连接器件不做（光耦合隔离器、双插头二极管）。 |