分立器件及集成电路，BG、B级 周期检验C组测试项目
发布时间：2021-11-01 05:53:23
周期检验是在规定的周期内，从逐批检验合格的某个批或若干批中抽取样本，并施加各种应力的各项试验，然后检测产品判定其是否符合规定要求的一种检验。标准中主要包括C组环境试验、D组耐久性寿命试验。
1、检验批的构成样品应根据产品标准中规定的抽样方案和检查水平及规定的样品数，从本周期内经逐批检验合格的一个批或几个批中随机抽取，加倍或二次试验的样品在抽样时一次取足。
2、检验方法主要包括：
（1）常温性能检查，试验前在正常工作的条件下，对被试样品进行定性和定量检查，判断产品质量是否全面符合产品技术标准和国家标准要求，或符合订货合同的规定。由于电子产品种类多、用途广，表征产品特性的技术参数很多，常温性能检测时，应严格按照技术标准规定进行全部指标或部分指标检测，检测合格的产品方可进行周期检验项目中的其他项目检验。
（2）环境试验：为了评价在规定周期生产批的产品的环境适应能力，将经过性能检测合格的产品，在人工模拟的环境条件下试验，以此评价产品在实际使用、运输、贮存环境条件下的性能是否满足产品定型鉴定检验时达到的环境适应能力。环境试验还包括高温负荷贮存试验、低温负荷贮存试验、高低温变化试验、交变湿热和恒定湿热试验、低气压试验、振动试验、冲击碰撞、跌落、加速度试验、盐雾试验等。由于电子产品使用环境不一样，在周期环境试验中，规定的环境试验项目可能是单项试验，也可能是组合或综合试验。
3、C组检验一般是周期性的破坏性试验，用来定期检查那些与产品设计及材料有关的特性，检验项目包括：高低温工作及贮存、湿热、冲击、颠震、震动、倾斜和摇摆、加速寿命、设备结构噪声、包装试验等内容。C组检验通常要求模拟工作环境，所需的受试样品的数量比B组检验少，而且与生产量或生产周期有关。除非另有规定，经过C组检验的样品，承制方将发现的或潜在的损伤修复后，再经过A组和B组检验合格后，可以按合同和订单交付。
C组检验适用范围包括：① 孤立批产品的每一个提交批；② 产品正常连续批生产时，每年进行一次；③ 对产品进行较大设计、工艺、材料、元器件更改后的提交批；④ 产品长期停产后，恢复生产时。C组检验的样品应在经过B组检验的合格批中随机抽取。
（分立器件）C组测试项目介绍
项目 | 方法GJB128A | 抽样数（大批） | 抽样数（小批） |
1 | 物理尺寸 | 2066 | LTPD=15 | 6（0） |
2 | 热冲击（液体） | 1056条件A，25℃功率>5W器件用条件B | LTPD=10 | 6（0） |
| 引线强度 | 2036 |
| 密封（细检漏） | 1071双插头二极管&超小器件不要求条件G或H，最大泄漏率5*10-3Pa.cm3/s，但内腔＞0.3cm3器件，最大最大泄漏率5*10-2Pa.cm3/s |
| 密封（粗检漏） |
| 耐湿 | 1021略去预处理 |
| 外观检查/终点电测 | 2071 |
3盘形封装不要求 | 冲击 | 2016 X1Y1Z1每方向各5次（轴向玻璃封装二极管只做Y1）不工作，14700m/s2，0.5ms, 带内匹配的微波功率器件见详规 | LTPD=10 | 6（0） |
| 扫频振动 | 2056 |
| 恒定加速度/终点电测 | 2006 X1Y1Z1每方向至少1min，加速度至少196000m/s2,25℃≥10W器件加速度至少98000，带内匹配的微波功率器件加速度至少9800 |
4 | 盐气 | 1041 | LTPD=15 | 6（0） |
5可用B组同条件样品继续 | 稳态工作寿命 | 1026盘形封装不要求，最高结温下最少1000h | ‘λ=10 | 12（0） |
| 或间歇工作寿命 | 1036 |
| 或阻断寿命/终点电测 | 1042条件D，至少6000次 |
| 备注：1不要求最终电测的各组样品，可采用同一批中电参数和X射线（JY）、PIND、老练后电参数不合格样品。2、抽样周期六个月。 |
（集成电路，BG、B级）C组测试项目介绍
项目 | 方法GJB548 | 抽样数 |
1 | 稳态寿命试验 | 1005规定条件（125℃下，1000h或表1等效） | 45（0） |
| 终点电测 | 详规 | 1份合同订货最多500个+订购计划最多2000个+12月内最多生产2000个，可5（0） |
| 备注：1、从每3个月生产出的器件中选取，不管是否通过B组均可进行C组检验。2、抽样周期三个月。 |