失效分析常用标准如下：
GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序
GJB450A 装备可靠性工作通用要求
GJB841 故障报告、分析和纠正系统
GJB536B-2011 电子元器件质量保证大纲
QJ3065.5-98 元器件失效分析管理要求
GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范
GJB 65B-1999 有可靠性指标的电磁继电器总规范
GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范
……
失效分析常见流程如下：
1、失效现场信息调查
2、失效模式确认
3、外观检查
4、非破坏性分析
5、半破坏性分析
6、破坏性分析
7、综合分析
8、报告编写
典型失效分析流程