AEC-Q200案例之多层压敏电阻器偏置湿度BH工作寿命OL及物理尺寸PD
发布时间：2022-04-20 08:44:11
AEC-Q200案例之多层压敏电阻器偏置湿度（Biased Humidity）工作寿命（Operational Life）物理尺寸（Physical Dimension）试验方法
1. 偏置湿度（Biased Humidity）
1.1 试验信息
样品数量：77 pcs * 1 lot
参考方法：MIL-STD-202H-103 (18 April 2015)
通电情况：10%的工作电压
试验温度：Ta = 85℃
试验相对湿度：85% RH
试验时间：1000 h
电测节点：0 h（初测）、250 h、500 h、1000 h（终测）
合格判据：由客户提供并确认，一般是电测数值范围及外观检查
1.2 仪器设备
半导体分立器件测试系统
高低温湿热试验箱
2. 工作寿命（Operational Life）
2.1 试验信息
样品数量：77 pcs * 1 lot
参考方法：MIL-STD-202H-108 (18 April 2015)
通电情况：工作电压
试验温度：Ta = 125℃
试验时间：1000 h
电测节点：0 h（初测）、250 h、500 h、1000 h（终测）
合格判据：由客户提供并确认，一般是电测数值范围及外观检查
2.2 仪器设备
半导体分立器件测试系统
多功能综合老化系统
3. 物理尺寸（Physical Dimension）
3.1 试验信息
样品数量：30 pcs * 1 lot
JEDEC JESD22-B100B (Reaffirmed: JUNE 2006, JANUARY 2016, SEPTEMBER 2021)
通电情况：不通电
电测节点：不适用
合格判据：依据规格书
3.2 仪器设备
体式显微镜