AEC-Q200案例之多层压敏电阻器高温存储High Temperature Exposure (Storage)及温度循环Temperature Cycling
发布时间：2022-04-18 10:00:14
AEC-Q200案例之多层压敏电阻器高温存储High Temperature Exposure (Storage)及温度循环Temperature Cycling
1 AEC-Q200高温存储（High Temperature Exposure (Storage)）
1.1 试验信息
样品数量：77 pcs * 1 lot
参考方法：MIL-STD-202H-108 (18 April 2015)
通电情况：不通电
试验温度：Ta
试验时长：1000 h
电测节点：0h（初测）、250h、500h、1000h（终测）
合格判据：由客户提供并确认，一般是电测数值范围及外观检查
1.2仪器设备
半导体分立器件测试系统
多功能综合老化系统
2.AEC-Q200温度循环（Temperature Cycling）
2.1 试验信息
样品数量：77 pcs * 1 lot
参考方法：JEDEC JESD22 Method JA-104F
通电情况：不通电
浸泡温度（最小及最大）：一般是最大温度值及最小温度值
保持时间：30 min
转换时间：≤ 1 min
试验时间：1000循环
电测节点：0h（初测）、250h、500h、1000h（终测）
合格判据：由客户提供并确认，一般是电测数值范围及外观检查
2.2 仪器设备
半导体分立器件测试系统
温度冲击试验箱