你们可以做金属镀层厚度检测和EDS镀层能谱成分分析吗？
发布时间：2021-12-01 10:37:12
你们可以做金属镀层厚度检测和EDS镀层能谱成分分析吗？
金属镀层厚度检测方法
金相法：
测量范围：可测量厚度范围是1-100μm，如小于1个μm的镀层，会超出测量误差。精度达0.1μm。
适用范围：对样品尺寸没太大的要求。
库仑法：
测量范围：0-35μm误差为±10%，35-100μm误差＞10%。型号：KJ-4000电脑库仑测厚仪.
适用范围：可测量一层镀层金属厚度、多层镀层金属厚度、多层镍厚度和电位差、合金镀、塑料上各种电镀金属。样品要求：表面光滑，最少有3mm2的平坦测试面。精度达0.01μm。
X射线荧光法—XRF：
型号：XRF荧光，属无损测量，对样品没太大要求，但需要提供镀层和基材信息，精度达0.01μm。
EDS镀层能谱成分分析
SEM扫描电镜能谱（EDS）分析技术： 能谱分析属于定性半定量。 EDS是一个电子壳层的电子被外来粒子或者能量激发，留下一个空位，然后外层电子跃迁至这个空位，同时就会放出特征X射线，这样不同壳层之间的电子转移导致的能量差就会有不同的谱线，EDS谱线就是把这些特征X射线脉冲的累积分开得到的。 因此谱线越多，说明外面的电子占有壳层越多。而定量分析时是根据不同元素来选择不同线系的谱峰强度以及这个元素的响应值来做计算的，所以谱峰多跟元素含量没有关系。