IPC 610 G X射线透视检查及ES90000-02 CAM扫描声学显微检查
发布时间：2020-03-31 08:25:18
X射线透视检查
X射线透视仪
参数功能：
最高电压160KV,标靶功率:3W；所有电压均可达到<0.95μm特征分辨率；
1400 倍光学放大倍率(4200 倍系统放大倍率)；
平板探测器像素点的尺寸<75μm；
平板探测器可360度无死角环绕旋转检测，可65度倾斜；
最大样品放置尺寸：736 ×580mm；
最大样品检测尺寸：508 ×444mm；
自动或手动进行元器件失效分析,包括BGA和QFN，贯穿孔填充百分比计算，测量功能，可自动或手动测量芯片内气泡比例。
参考标准：
IPC 610 G 电子组件可接受性
CAM扫描声学显微检查
声学扫描显微镜
厂家：德国PVA TePla
型号：SAM 301
参数功能：
最大扫描范围：≥ 320mm×320mm；
最小扫描范围：0.2*0.2mm；
X，Y轴最大扫描速度：≥1000mm/s，速度可调；
重复精度±0.1μm；
主要扫描模式：点扫描、纵向扫描、水平扫描、多层水平扫描、多重门限扫描、透射扫描、托盘扫描等。
扫描声学显微镜通常用于检测电子元器件、材料及PCB/PCBA内部的各种缺陷（如裂纹、分层、夹杂物、附着物及空洞等）。
在DPA中用于芯片粘接超声检测、塑封器件的扫描声学显微镜检查。
参考标准：
ES90000-02 电装品半导体剥离判定基准