你们可以做绝缘电阻劣化（离子迁移）评估吗？什么是表面绝缘阻抗(SIR)测试？
发布时间：2018-06-22 08:45:46
广电计量有高端绝缘电阻测试系统（SIR），有丰富的绝缘电阻劣化（离子迁移）评估经验。
案例举例如下：
样品名称：PCB板
检测项目：CAF（Conductive Anodic Filament）
检测方法：依据IPC-TM-650 2.6.25和委托单位要求，对样品进行CAF测试，在潮热条件（85℃，85％RH）静置96小时，然后对样品施 加100VDC的偏压，并持续1000小时，试验期间采用100VDC的测试电压监测指定位置的绝缘电阻值。
检测依据：IPC-TM-650 2.6.25 Conductive Anodic Filament (CAF) Resistance Test:X-Y Axis
试验条件：IPC-TM-650 2.6.25）
潮热条件：85℃，85％RH；
偏压电压：100VDC，与测试电压极性相同；
测试电压：100VDC，加载时间60秒；
潮热静置时间：96小时，
潮热加电试验时间：1000小时，合计1096小时。