Q/GDW 11179.4-2014 电能表用元器件光电耦合器时间特性试验怎么做？
发布时间：2021-11-09 09:12:23
Q/GDW 11179.4-2014 电能表用元器件技术规范第4部分：光电耦合器 时间特性试验
时间特性试验步骤及条件：
参照GB/T 15651.3-2003中5.7中规定的方法，分别测试上升时间（tr），下降时间（tf），开通时间（ton），关断时间（toff）。参照图1所示的电路进行测试。
图1 光电耦合器测试电路
测试时，电源电压VCC施加在被测光电耦合器的输出电路，G1产生的脉冲加载光电耦合器的输入端，增加脉冲幅度，直到规定的输出电流IC。时间参数由示波器上观察到的波形确定。测试条件为集电极电流IC=2mA，电源电压VCC=10V，负载RL=100Ω，负载R1为50Ω。记录上升时间tr，下降时间tf，开通时间ton，关断时间toff。
时间特性试验要求：
光电耦合器的时间特性应满足表1的要求
表1光电耦合器的时间特性
序号 | 项目 | 要求 |
1 | 上升时间（tr） | ≤12μs |
2 | 下降时间（tf） | ≤12μs |
3 | 开通时间（ton） | ≤12μs |
4 | 关断时间（toff） | ≤12μs |